Gritzner G., Deinhofer C., Kim B.-J., Matsui Y., Horiuchi S.(s.horiuchi@ibaraki.email.ne.jp), Jeong D.-Y.
Ключевые слова: HTS, other HTS, films epitaxial, buffer layers, substrate Ag, coated conductors, microstructure, fabrication, screen printing
Han Z., Shi K., Song W.H., Liu S.M., Sun Y.P., Zhu X.B.(xbzhu@issp.ac.cn), Hao H.R., Chen L., Sun Z.Y., Chen S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, seed layers, substrate Ni, microstructure, fabrication
Han Z., Shi K., Song W.H., Liu S.M., Sun Y.P., Zhu X.B.(xbzhu@issp.ac.cn), Chen L., Sun Z.Y., Chen S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, chemical solution deposition, spin coating process, seed layers, buffer layers, microstructure, fabrication
Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, Jc/B curves, ac losses, review, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, buffer layers, chemical solution deposition, fabrication, microstructure
Hahakura S.(hahakura-shuji@sei.co.jp), Ohmatsu K., Fujino K., Konishi M.
Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Okamoto H., Inoue A., Hoshi S., Kai M.(kai@istec.or.jp), Koyama S., Otsuka M.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Manabe T.(manabe.t@aist.go.jp), Sohma M., Yamaguchi I., Kondo W., Tsukada K., Mizuta S., Kumagai T.
Shiohara Y., Takahashi Y.(k920112@snt1.swcc.co.jp), Aoki Y., Hasegawa T., Maeda T., Honjo T., Yamada Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, substrate Ni, buffer layers, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Ericson R.E.(rericson@mmm.com)
Ключевые слова: HTS, wires, YBCO, coated conductors, substrate Ni, buffer layers, interfaces, microstructure, experimental results, dynamic operation
Yamaguchi I., Kondo W., Tsukada K., Mizuta S., Kumagai T., Sohma M.(m.sohma@aist.go.jp), Manabe T.
Kreiskott S.(saschak@lanl.gov), Getta M., Monter B., Piel H., Pupeter N.
Aslanoglu Z.(ziya@magnet.fsu.edu), Akin Y., El-Kawni M.I., Sigmund W*2., Hascicek Y.S.
Sun J., Ji B.K., Jung C., Joo J., Park S., Jun B., Hong G., Kim C.(cjkim2@kaeri.re.kr), Kim H., Kim H., Park H.
Ключевые слова: coated conductors, substrate Ni, buffer layers, fabrication, MOCVD process, microstructure, HTS, YBCO, magnetic properties
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, fabrication, electron beam evaporation, substrate Ni, HTS, YBCO, microstructure, magnetic properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.